Poruchy v molekulární struktuře polovodičových materiálů způsobují výpadky funkčnosti polovodičových prvků. Jedná se o běžný jev, který se často vyskytuje již při výrobě a proto jsou např. obvody polovodičových pamětí už preventivně navrženy tak, aby se s výpadkem určitého počtu paměťových buněk dokázaly samy vyrovnat bez poruchy funkce paměti jako celku.

    Katastrofální důsledky má však takovýto výpadek u polovodičových displejů, kde zkrátka daný bod kvůli poruše vyhasne, chyba je neopravitelná a okamžitě v obrazu také viditelná. Proto jsou také nároky na čistotu materiálů při jejich výrobě extrémní, výtěžnost malá a výroba tím pádem drahá.

    Úplně stejná je situace při výrobě světlocitlivých snímačů digitálních fotoaparátů typu CCD nebo CMOS. V tomto případě je dokonce situace zdánlivě ještě horší, protože porucha jednoho jediného bodu zasáhne díky použitým matematickým algoritmům převodu analogového signálu na číslicový ve výsledném obrazu i body okolní.

    Z tohoto důvodu zavádějí výrobci do digitálních fotoaparátů kalibraci světlocitlivého snímače (pixel mapping), kterou je možno spustit kdykoliv a nebo se provádí automaticky při každém zapnutí přístroje. Jestliže kalibrační proces nalezne ve struktuře snímače nefunkční bod, dokáže upravit matematický algoritmus převodu tak, aby byla chyba ve výsledném obrazu nepostřehnutelná.